Spectrométrie de fluorescence X

Spectrométrie de fluorescence X, à dispersion d'énergie (XRFA), selon les normes DIN ISO 3497 et ASTM B 568

Méthode de mesure :

La spectrométrie de fluorescence X s'appuie sur le phénomène suivant : lorsque les atomes d'un échantillon de matériau sont excités par le rayonnement X primaire, les électrons des couches les plus internes sont libérés ; les vides qui en résultent sont alors comblés par les électrons des couches externes.

Atomic model for the X-Ray Fluorescence Analysis method.
Atomic model for the X-Ray Fluorescence Analysis method.

Lors de ces transitions, le rayonnement fluorescent généré est caractéristique de chaque élément. Ce phénomène est lu par le détecteur et fournit des informations sur la composition de l'échantillon.

Votre contact chez FISCHER

Fischer Instrumentation Electronique
Montigny le Bretonneux/France

Contacter directement
Tel.: +33 (0)1 30 58 00 58
E-mail: france@helmutfischer.com
Formulaire de contact en ligne