Instruments de mesure de laboratoire

Les instruments de mesure d'épaisseur de revêtement de laboratoire de Fischer, qui utilisent la spectrométrie de fluorescence X ou la technologie de mesure tactile avec différentes sondes, offrent des performances et une flexibilité inégalées. De par le large éventail de techniques de mesure appliquées, ces instruments constituent la solution adaptée à toutes les tâches. Les instruments de laboratoire peuvent aisément être intégrés dans les systèmes de production et de gestion de la qualité, via des interfaces logicielles et matérielles.

XAN500

Un appareil, trois applications: le XAN®500 n'est pas seulement un appareil de fluorescence x portable, il est aussi utilisable en poste fixe ou en ligne

MMS PC2

Système modulaire pour diverses techniques de mesure : idéal pour les tâches variables liées à la mesure de l'épaisseur de revêtement et à l'essai des matériaux.

BETASCOPE

Mesure de l'épaisseur de revêtement selon la méthode de rétrodiffusion bêta : pour des couches fines jusqu'à moins de 3 µm, ainsi que pour les couches molles ou les revêtements plastiques.

CMS2

Instrument de laboratoire pour la mesure d'épaisseur de la quasi-totalité des revêtements métalliques, y compris multi-couches, sur des substrats métalliques ou non-métalliques.

GOLDSCOPE

Les équipements de fluorescence à rayons X de la famille GOLDSCOPE sont spécifiquement conçus pour analyser l'Or et les autres métaux précieux

XAN

Instruments de mesure pour une analyse rapide et économique des bijoux en or et autres métaux précieux.

XUL / XULM

Instruments robustes basés sur la spectrométrie de fluorescence X pour une mesure rapide et économique de l'épaisseur de revêtement, en particulier dans l'industrie de la galvanoplastie.

XDL / XDLM / XDAL

Le tout-terrain : avec leurs options de configuration complètes, les instruments XDL sont idéaux pour les mesures manuelles ou les tests en série des épaisseurs de revêtement et compositions des matériaux.

XDV-SDD

Le FISCHERSCOPE® XDV-SDD a été conçu pour répondre aux exigences les plus élevées en matière de mesure d'épaisseur de revêtements et d'analyse des matériaux

XDV-µ

Avec la série XDV-µ , Fischer propose des instruments pour mesurer sur les plus petites surfaces disponibles, par exemple dans l'industrie électronique ou la joaillerie.

XUV

Instruments de spectrométrie de fluorescence X avec chambre sous vide pour l'analyse des éléments légers.

Votre contact chez FISCHER

Fischer Instrumentation Electronique
Montigny le Bretonneux/France

Contacter directement
Tel.: +33 (0)1 30 58 00 58
E-mail: france@helmutfischer.com
Formulaire de contact en ligne