XDV-SDD

Le XDV-SDD est l'un des appareils de mesure par fluorescence X parmi les plus performants de la gamme FISCHER. Ce modèle est équipé d'un détecteur SDD particulièrement grand. Sa fenêtre de comptage de 50mm² permet des analyses précises et rapides, même pour de petits spots de mesure. En outre, il peut être équipé de différents diaphragmes et filtres pour obtenir des conditions d'excitation optimales en fonction de la mesure à effectuer.

XDV-SDD pour la mesure des épaisseurs de revêtements et l'analyse des matériaux

Caractéristiques

  • Tube X-Ray hautes performances et détecteur SDD avec une grande fenêtre de comptage, assurant des mesures précises et répétables même pour des revêtements les plus fins
  • Conception et fabrication robuste pour effectuer des séries de mesures, avec une très grande stabilité à long terme
  • Table XY programmable et axe Z motorisé pour des mesures automatiques
  • Affichage video direct et pointeur laser pour un positionnement facile et rapide des échantillons

Applications:

Mesure d'épaisseur de revêtements

  • Mesure de revêtements de très faibles épaisseurs, comme une couche d'or sur palladium ≤0,1 µm dans les domaines de l'électronique et les semiconducteurs
  • Mesure de revêtements durs dans l'industrie automobile
  • Mesure des épaisseurs de revêtements dans le secteur photovoltaïque

Analyse des matériaux

  • Identification de matières dangereuses (les métaux lourds par exemple) dans l'électronique, l'emballage et la fourniture de biens d'équipement selon les normes RoHS, WEEE, CPSIA et autres
  • Analyse de l'or, des métaux précieux et de leurs alliages
  • Détermination de la composition de revêtements, comme le pourcentage de phosphore dans le NiP

Votre contact chez FISCHER

Fischer Instrumentation Electronique
Montigny le Bretonneux/France

Contacter directement
Tel.: +33 (0)1 30 58 00 58
E-mail: france@helmutfischer.com
Formulaire de contact en ligne

Informations