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Caractéristiques

  • Spectromètre XRF universel haut de gamme pour les mesures automatisées de couches très minces < 0,05 μm et pour l'analyse des matériaux dans la gamme inférieure au millième selon DIN ISO 3497 et ASTM B 568.
  • Tube microfocus avec anode en tungstène
  • 4 x ouverture variable pour des conditions de mesure optimisées
  • 6 x filtre primaire interchangeable pour de meilleures conditions d'excitation lors de tâches plus complexes
  • Détecteur de dérive au silicium (SDD) extrêmement performant avec une surface effective particulièrement grande de 50 mm².
  • Processeur d'impulsions numérique DPP+ pour des taux de comptage plus élevés, des temps de mesure plus courts ou une meilleure répétabilité de vos résultats de mesure
  • Analyse d'éléments de Al(13) à U(92)
  • Possibilité d'échantillons jusqu'à 14 cm de hauteur
  • Table XY programmable de haute précision avec une précision d'approche < 5 µm pour des mesures automatisées sur de petites structures
  • Méthode DCM pour une adaptation simple et rapide de la distance de mesure
  • Appareil à protection totale homologué conformément à la législation actuelle sur la radioprotection.

Domaines d'application typiques

  • Mesure de couches fonctionnelles dans l'industrie électronique et des semi-conducteurs, par ex. détermination de l'épaisseur de couches d'or jusqu'à 2 nm.
  • Analyse de revêtements minces et très minces dans l'industrie électronique et des semi-conducteurs, par ex. couches d'or/palladium de ≤ 0,1 μm
  • Détermination de systèmes multicouches complexes
  • Mesure de l'épaisseur des couches dans l'industrie photovoltaïque
  • Analyse de traces de substances dangereuses telles que le plomb et le cadmium selon les directives RoHS, WEEE, CPSIA et autres pour l'électronique, l'emballage et les objets d'usage courant
  • Analyse et contrôle d'authenticité de l'or et d'autres métaux précieux ainsi que des alliages de métaux précieux
  • Détermination directe de la teneur en phosphore dans les couches fonctionnelles NiP.

Le polyvalent de haute qualité

Le FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD est l'un des appareils à fluorescence X les plus performants du catalogue Fischer. Ce spectromètre XRF est équipé d'un détecteur de dérive au silicium (SDD) haute résolution et haute performance avec une surface efficace de 50 mm². Il permet de mesurer avec précision et de manière non destructive les couches les plus fines - par exemple des revêtements d'or d'environ 2 nm d'épaisseur sur des lead frames.

En combinaison avec le nouveau processeur d'impulsions numérique DPP+ développé en interne, vous portez vos performances de mesure à un niveau supérieur. Il est désormais possible de traiter des taux de comptage encore plus élevés, ce qui permet de réduire les temps de mesure ou d'améliorer la répétabilité de vos résultats de mesure. Parallèlement, le XDV-SDD est parfaitement adapté à l'analyse non destructive des matériaux par XRF. Ainsi, la sensibilité de détection de traces de plomb dans le plastique est d'environ 2 ppm - plusieurs ordres de grandeur en dessous des valeurs RoHS ou CPSIA exigées.

Afin de créer des conditions idéales pour chaque mesure, le XDV-SDD dispose de collimateurs et de filtres primaires interchangeables. Cela permet de travailler à un niveau scientifique. Malgré cela, l'appareil extrêmement robuste, avec son panneau de commande intuitif, est facile à utiliser via un joystick et des touches et est conçu en particulier pour les tests en série dans le cadre d'une utilisation industrielle.

Avant le poinçonnage, pour les grands volumes d'échantillons ou les grandes pièces d'essai : Mesurez la teneur en or de manière rapide et fiable

Examinez de manière fiable les alliages ou les métaux précieux pour détecter les différences les plus fines avec le nouveau FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD. Obtenez des analyses très précises, sur la base desquelles vous pouvez faire des déclarations fiables sur la valeur des lingots d'or, des pièces de monnaie ou des bijoux.

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