XUV

La chambre de mesure sous vide des appareils de la gamme XUV® permet de vérifier les matériaux légers à partir du sodium, via la spectrométrie de fluorescence X (RFA). En raison des propriétés d'absorption des rayonnements de l'air ambiant, il n'est normalement pas possible d'utiliser cette méthode. Pour cette raison, l'instrument est idéal pour les tâches très exigeantes de mesure d'épaisseur de revêtement et d'analyse des matériaux.

XUV

Caractéristiques :

  • Particulièrement adaptés à la recherche et développement avec leurs limites de détection basses, précision répétable et possibilités de mesure évolutives universelles
  • Chambre sous vide et détecteur à dérive de silicium hautes performances pour une mesure précise, même des éléments légers
  • Tests en série automatisés avec axes X, Y et Z programmables
  • Adaptables aux exigences de divers matériaux et conditions de mesure à l'aide d'ouvertures et de filtres interchangeables

Applications :

Mesure d'épaisseur de revêtement

  • Couches d'éléments légers à partir du sodium, de l'ordre de l'échelle nm
  • Couches d'aluminium et de silicium

Analyse des matériaux

  • Détermination de l'authenticité et de la provenance des pierres précieuses
  • Analyse générale des matériaux et médecine légale
  • Analyse des traces haute résolution

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Fischer Instrumentation Electronique
Montigny le Bretonneux/France

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